法国phasics 波前分析仪 SID4技术参数

 法国Phasics 公司的产品基于其波前测量技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种技术将高分辨率和大动态范围较好结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下技术优势：高分辨率的相位图，高分辨率可达400ｘ300。具有直接测量高发散光束的能力消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：激光束质量分析自适应光学光学系统测量生物成像热成像，等离子体表面物理

 法国Phasics 公司的产品基于其波前测量技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种技术将高分辨率和大动态范围较好结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下技术优势：高分辨率的相位图，高分辨率可达400ｘ300。具有直接测量高发散光束的能力消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：激光束质量分析自适应光学光学系统测量生物成像热成像，等离子体表面物理